3.1.3 專利特征曲線

Altshuller通過專利分析，從產(chǎn)品獲得的利潤、專利的數(shù)量、專利的等級(jí)、產(chǎn)品性能等方面考察了各參量隨著時(shí)間的演進(jìn)變化趨勢，形成了體現(xiàn)技術(shù)生命周期演進(jìn)規(guī)律的專利特征曲線，如圖3-2所示。

圖3-2 專利特征曲線

后來的研究者也做了相應(yīng)的探索。Darrell Mann重點(diǎn)研究了彌補(bǔ)缺陷的專利和降低成本的專利。前者是指通過引入輔助手段，包括改變結(jié)構(gòu)或引入新方法，以彌補(bǔ)現(xiàn)有專利中的缺陷；后者指可以降低產(chǎn)品的成本，從而獲得市場價(jià)格優(yōu)勢的專利。其特征曲線如圖3-3所示。

圖3-3 彌補(bǔ)缺陷的專利特征曲線

通常，產(chǎn)品的性能參數(shù)指標(biāo)以及產(chǎn)品取得利潤的數(shù)據(jù)不容易獲得，在實(shí)際應(yīng)用中可以選擇其中的幾個(gè)特征曲線進(jìn)行判斷。本書采用專利等級(jí)、專利數(shù)量曲線，結(jié)合彌補(bǔ)缺陷的專利曲線進(jìn)行分析。

不同產(chǎn)品的專利曲線，可以基于離散的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行擬合而獲得。