1.3.3 S.M.A.R.T.技術(shù)簡介

S.M.A.R.T.技術(shù)的全稱是Self-Monitoring，Analysis and Reporting Technology，即“自監(jiān)測、分析及報(bào)告技術(shù)”。

1.3.3.1 S.M.A.R.T.技術(shù)的功能

S.M.A.R.T.技術(shù)是一種預(yù)警技術(shù)，由硬盤的監(jiān)測電路和相應(yīng)的監(jiān)測軟件構(gòu)成，其監(jiān)測的對象包括磁頭、磁盤、馬達(dá)、電路等。對被監(jiān)測對象的運(yùn)行情況與歷史記錄及預(yù)設(shè)的安全值進(jìn)行分析、比較，當(dāng)出現(xiàn)安全值范圍以外的情況時(shí)，會自動向用戶發(fā)出警告。一些新版本的S.M.A.R.T.技術(shù)不但可以提醒網(wǎng)絡(luò)管理員注意，自動降低硬盤的運(yùn)行速度，而且可以將重要數(shù)據(jù)文件轉(zhuǎn)存到其他安全扇區(qū)，甚至把文件備份到其他硬盤或存儲設(shè)備。通過采用S.M.A.R.T.技術(shù)，可以有效預(yù)測硬盤潛在的故障，提高數(shù)據(jù)的安全性。

硬盤的故障可以分為兩種：一種是漸發(fā)性，另一種是偶發(fā)性。S.M.A.R.T.技術(shù)只能對漸發(fā)性的故障進(jìn)行監(jiān)測，如硬盤的主軸馬達(dá)逐漸磨損，一些硬盤部件性能的逐漸弱化等故障。而對于一些偶發(fā)性的故障，如由于一些人為原因而造成的電路板芯片燒毀，突發(fā)的撞擊導(dǎo)致磁頭、介質(zhì)損壞等，S.M.A.R.T.技術(shù)是無能為力的。

S.M.A.R.T.技術(shù)信息保存在硬盤的固件區(qū)內(nèi)，監(jiān)測軟件通過一個(gè)名“SMARTRETURNSTATUS”的命令對S.M.A.R.T信息進(jìn)行讀取，且不允許用戶對S.M.A.R.T信息進(jìn)行修改。若需要對S.M.A.R.T項(xiàng)進(jìn)行復(fù)位，必須使用專門的工具。

1.3.3.2 S.M.A.R.T.技術(shù)的參數(shù)

S.M.A.R.T.技術(shù)規(guī)定有專門的檢測參數(shù)，由于硬盤結(jié)構(gòu)、性能和定位上的不同，除了ATA-3標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的參數(shù)外，廠家可以根據(jù)自己產(chǎn)品的特性提供不同的S.M.A.R.T檢測參數(shù)，用戶可以通過查看這些參數(shù)來了解自己硬盤的健康狀況。

由于ATA標(biāo)準(zhǔn)不斷更新，不同型號產(chǎn)品也會有所不同。其中S.M.A.R.T.技術(shù)規(guī)定的幾個(gè)主要檢測屬性如表1-1所示。

表1-1 S.M.A.R.T.技術(shù)的檢測屬性

S.M.A.R.T.技術(shù)通過各項(xiàng)屬性的Threshold（閾值）、Attribute（屬性值）、Worst（最大錯(cuò)誤值）、Date（實(shí)際值）和Status（屬性狀態(tài)）對硬盤性能進(jìn)行綜合判斷。但不同廠家、不同型號的產(chǎn)品，其屬性描述不盡相同，在應(yīng)用過程中只需了解屬性值的含義即可。