1.2.1 測試方案制定

測試方案需要根據器件測試規范來制定[9]。測試規范包括以下內容：

（1）功能、參數——測試條件、參數特性、功能特性、實現算法、輸入/輸出信號的特性、時鐘頻率等[10]；

（2）器件類型——處理器、存儲器、可編程邏輯器件、模擬電路、數模混合電路等；

（3）封裝特性——封裝形式、引腳定義；

（4）工藝類別——可編程門電路、專用集成電路（Application Specific Integrated Circuit，ASIC）、標準單元等[11]；

（5）環境特性——工作溫度范圍、電壓范圍、濕度等；

（6）可靠性——質量等級（商業級、工業級、軍品級）、靜電釋放（Electrostatic Discharge，ESD）、抗輻照能力等。

在測試規范的基礎上，可以制定測試方案。測試方案需要包括：測試系統的選擇、測試夾具的選擇、DUT板設計方案、測試功能、參數項目清單和測試計劃等。在選擇測試系統時需要綜合考慮多種因素，如數據吞吐量、時鐘頻率、定時精度、測試向量深度[12]、測試系統各種板卡的性能指標、測試系統需求及預計費用等。