第1章 集成電路測試概述

1.1 引言

1.1.1 集成電路測試的定義

集成電路（Integrated Circuit，IC）測試是指對集成電路或模塊進行檢測，通過對集成電路的輸出響應(yīng)和預(yù)期輸出進行比較，以確定或評估集成電路元器件功能和性能的過程。集成電路測試是驗證設(shè)計、監(jiān)控生產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效及指導(dǎo)應(yīng)用的重要手段。

集成電路測試貫穿于集成電路設(shè)計、制造、封裝和應(yīng)用全過程之中[1]，相關(guān)示意圖如圖1-1所示。一款集成電路在流片之前，一定要經(jīng)過原型驗證測試；在流片回來后封裝之前要進行晶圓測試（中測），剔除不合格品，避免封裝管殼的浪費；封裝好的產(chǎn)品要通過成品測試，成品測試是集成電路產(chǎn)品的最終測試[2]。只有通過測試的電路才能作為成品發(fā)貨。測試人員需要針對集成電路不同的應(yīng)用目的和不同的使用條件進行全面或特定的測試（如篩選測試、二次篩選測試、分析測試等）。

圖1-1 集成電路測試貫穿集成電路產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)疽鈭D