- GB/T 50480-2008 冶金工業(yè)巖土勘察原位測試規(guī)范
- 中冶沈勘工程技術(shù)有限公司主編
- 2108字
- 2022-07-15 11:27:56
9.4 資料整理
9.4.1 對原始記錄數(shù)據(jù)或原始記錄曲線應(yīng)進行深度修正、零漂修正和幅值修正。
9.4.2 各深度的觸探參數(shù)應(yīng)按下列公式計算:

式中 xd′——某深度d處讀數(shù)的修正值;
xd——深度d處的實測值(Ps、qc、fs、ud、uT)代號;
Δxd——相應(yīng)于深度d處的零漂修正量(平差值),分正、負(fù);
ξ——觸探參數(shù)的標(biāo)定系數(shù)(kPa/mV);
qT——總錐尖阻力(kPa);
α——探頭有效面積比(見本規(guī)范附錄D表D.0.4);
uT——孔壓探頭貫入時于錐底以上圓柱面處測得的孔隙水壓力(kPa);
ud——孔壓探頭貫入時于錐面處測得的孔隙水壓力(kPa);
β——孔壓換算系數(shù),即uT與ud之比值,可按表9.4.2取值;
Bq——超孔壓比;
Δu——探頭貫入時土的超孔隙水壓力(kPa);
σV0——土的總自重壓力(kPa);
u0——探頭貫入時的孔隙壓力(kPa);過濾片置于探頭錐面上時,u0=ud;過濾片置于錐底圓柱面處時,u0=ut;
uw——靜止孔隙水壓力(kPa)。
表9.4.2 與土質(zhì)狀態(tài)有關(guān)的β值

計算各深度觸探參數(shù)說明如下:
1qc(或Ps)、fs和ud(或uT)是3個基本觸探參數(shù),連同孔壓消散試驗數(shù)據(jù)在內(nèi),是進行土層劃分、定名、確定地基持力層、給定地基參數(shù)的依據(jù),必須根據(jù)計算公式逐點算出,以便繪制觸探曲線。
2Rf、Bq和qr則是通過參數(shù)變換計算得到的,在手工制圖情況下,一般只要求計算分層土的平均值。若使用微機成圖,這些參數(shù)也應(yīng)逐點算出,繪制曲線。其中,Rf和Bq是土層的兩個特征參數(shù)。
3qT是將qc轉(zhuǎn)換成具有總應(yīng)力概念的總錐尖阻力。探頭貫入時,特別是在欠固結(jié)和正常固結(jié)黏土中,環(huán)狀面積受到一個與貫入同向的水壓力(uT),使錐尖阻力減小。因此qc應(yīng)按本規(guī)范式(9.4.2-3)修正,以利成果的通用與解釋。
9.4.3 靜力觸探試驗曲線圖可按下列要求繪制:
1 應(yīng)以深度為縱軸、以觸探參數(shù)為橫軸繪制觸探曲線,其中fs、ud(或uT)及qc之間的數(shù)值比例宜取1∶10∶100。
2qc或Ps、fs、ud或uT、uw與深度d的關(guān)系曲線應(yīng)以不同的表達形式同繪于一個坐標(biāo)圖中,也可將ud(或uT)和uw繪制于該坐標(biāo)圖的對稱側(cè)。Bq、Rf與d的關(guān)系曲線宜繪于另一坐標(biāo)圖中,二者在橫軸上數(shù)值比例宜取1∶10。
3 上述各觸探曲線均應(yīng)采用參數(shù)符號在圖中標(biāo)示清楚或示出圖例,然后進行分層,并計算各分層觸探參數(shù)值和地基參數(shù)值。
4 當(dāng)靜力觸探試驗孔與鉆探孔配合時,靜探深度比例尺應(yīng)與鉆孔深度比例尺一致。
觸探結(jié)果就是獲得一系列觸探參數(shù),這是確定地基計算參數(shù)的基礎(chǔ)性數(shù)據(jù)之一。為方便使用,應(yīng)通過各種形式的圖表充分地表達出來,它們能直觀而形象地給出一個連續(xù)的土層工程特性沿深度而變化的剖面,便于設(shè)計人員選擇地基持力層。
9.4.4 孔壓消散值可按下列程序修正:
1 以修正的貫入孔壓值(ud或ut)作為消散試驗的孔壓初始值,以零漂修正量等量修正試驗點各個時刻測定的孔壓消散值(ut)。
2 以孔壓消散值(ut)為縱軸、時間對數(shù)值(lgt)為橫軸,繪制孔壓消散曲線(ut—lgt)。
3 孔壓消散曲線初始段出現(xiàn)陡降或先升后降時,可用云形板擬合,使其后段曲線通過陡降段終點與縱軸相交。
4 孔壓消散曲線初始段出現(xiàn)上升現(xiàn)象時,宜略去其上升段,以曲線峰值點作為消散曲線的計量起點,在同一張ut—lgt坐標(biāo)圖中重新繪制孔壓消散曲線。
9.4.5 歸一化超孔壓消散曲線應(yīng)按下列要求繪制:
1 孔壓初始值以經(jīng)過修正的貫入孔壓ua為消散試驗時的孔壓初始值:ut=0=ua。
2 各時刻的歸一化超孔壓V—應(yīng)按下式計算:

式中 V———歸一化超孔壓,當(dāng)t=0時,ut=ud,V—=1;當(dāng)孔壓完全消散時,ut=uw,V—=0;
ut——經(jīng)修正后,在該試驗深度任意時刻的孔壓值(kPa)。
3 地基中試驗點處的剩余超孔壓Δur按下式計算:

4 以V—為縱軸、時間t的對數(shù)lgt為橫軸,繪制歸一化超孔壓比曲線(V——lgt)。
歸一化超孔壓消散曲線值V—與以孔隙壓力為定義的固結(jié)U的關(guān)系為U=1-V—,孔壓消散過程線即固結(jié)度與消散時間的過程線,可計算土的固結(jié)特性參數(shù)。
9.4.6 土層界面位置的確定應(yīng)符合下列規(guī)定:
1 孔壓觸探時,應(yīng)將ud(或uT)和Bq的突變點位置定為土層界面。
2 單橋或雙橋觸探時,應(yīng)根據(jù)超前深度和滯后深度確定,方法如下:
1)一般情況下,可將超前、滯后總深度段中點偏向低端阻值(Ps、qc)層(軟層)10cm處定為土層界面;
2)上、下土層的端阻值相差1倍以上,且其中軟層的平均端阻 )<2MPa時,可將軟層的最后1個(或第一3)上、下土層端阻值差別不明顯時,則應(yīng)結(jié)合Rf、fs值確定土層界面。
探頭在成層土中貫入,即使各土層是絕對均質(zhì)的,也會因上、下土層間密度、狀態(tài)及土質(zhì)不同,使得觸探參數(shù)特別是端阻值在土層界面上、下一定深度內(nèi)有提前變大或變小的現(xiàn)象,稱之為土層的界面效應(yīng)。
9.4.7 各土層的觸探參數(shù)值應(yīng)按下列公式及要求取值:
1 土層厚度h大于等于1m且土質(zhì)比較均勻時,可按下列公式計算土層的觸探參數(shù)值:

個)qc(或Ps)小值偏向硬層10cm處定為土層界面;

式中 x——各觸探參數(shù)代號,角標(biāo)i=1,2,…,n為觸探參數(shù)數(shù)據(jù)序號。
2 土層厚度h小于1m的均質(zhì)土層,軟層應(yīng)取最小值、硬層應(yīng)取較大值。
3 經(jīng)過修正成圖的記錄曲線,可根據(jù)各分層土層曲線幅值變化情況,劃分成若干小層,對每一小層按等積原理繪成直方圖,按下式計算分層土層的觸探參數(shù)值:

式中 hi——第i小層土厚度,xi為各小層的觸探參數(shù)平均值。
4 分層曲線中的特殊大值,不應(yīng)參與計算。
5 由單層厚度在30cm以內(nèi)的粉砂或粉土與黏性土交互沉積的土層,應(yīng)分別計算各觸探參數(shù)的大值平均值和小值平均值。
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