- 運(yùn)放電路環(huán)路穩(wěn)定性設(shè)計(jì):原理分析、仿真計(jì)算、樣機(jī)測(cè)試
- 張東輝 王銀 潘興隆 張遠(yuǎn)征
- 2097字
- 2021-08-12 17:23:41
1.3 運(yùn)放及RLC模型
1.3.1 運(yùn)放傳遞函數(shù)模型建立
利用運(yùn)放數(shù)據(jù)手冊(cè)大信號(hào)增益曲線建立其控制模型、進(jìn)行環(huán)路穩(wěn)定性分析,運(yùn)放大信號(hào)開(kāi)環(huán)增益曲線如圖1.87所示。

圖1.87 運(yùn)放大信號(hào)開(kāi)環(huán)增益曲線
第1步——根據(jù)運(yùn)放開(kāi)環(huán)增益數(shù)據(jù)計(jì)算直流增益與極點(diǎn)頻率:

第2步——利用LAPLACE和ELAPLACE建立運(yùn)放傳遞函數(shù)模型(見(jiàn)圖1.88):運(yùn)放傳遞函數(shù)數(shù)學(xué)表達(dá)式為f(s)=≈
,PSpice中的LAPLACE表達(dá)式為{PWR(10,{GaindB/20})/((1+s/(6.28×fp1))×(1+s/(6.28×fp2)))}。

圖1.88 運(yùn)放傳遞函數(shù)模型
第3步——運(yùn)放傳遞函數(shù)模型測(cè)試:測(cè)試電路如圖1.89所示,交流仿真設(shè)置如圖1.90所示,幅頻特性曲線如圖1.91所示,相頻特性曲線和數(shù)據(jù)如圖1.92所示。

圖1.89 運(yùn)放傳遞函數(shù)模型測(cè)試電路

圖1.90 交流仿真設(shè)置

圖1.91 幅頻特性曲線
總結(jié):仿真運(yùn)放環(huán)路控制時(shí)利用數(shù)據(jù)手冊(cè)與LAPLACE和ELAPLACE建立運(yùn)放傳遞函數(shù),其頻率特性與運(yùn)放物理模型一致,利用該模型實(shí)現(xiàn)運(yùn)放電路環(huán)路分析與設(shè)計(jì)。

圖1.92 相頻特性曲線和數(shù)據(jù)
1.3.2 實(shí)際電阻模型
初看電阻只是一個(gè)電阻,但是深入分析之后將會(huì)發(fā)現(xiàn)細(xì)微之處,理想電阻的阻抗并不依賴工作頻率,而且其阻抗始終等于阻值,即
Z resistor,ideal=R
實(shí)際電阻模型包括幾何形狀引線長(zhǎng)度產(chǎn)生的寄生電感和跨接電阻的寄生電容,具體如圖1.93所示,實(shí)際電阻包含上述寄生元件時(shí)的阻抗推導(dǎo)公式如下

圖1.93 實(shí)際電阻模型

將s=jω代入上述公式可得

對(duì)于大阻值電阻,RCp時(shí)間常數(shù)占主導(dǎo)地位,因?yàn)榇笞柚惦娮鑼⒓纳姼兄笛谏w忽略不計(jì);對(duì)于小阻值電阻,Lp/R時(shí)間常數(shù)占主導(dǎo)地位,因?yàn)殡娮栌行Ф探蛹纳娙荩灰虼藢?shí)際電阻的阻抗模為

R=1megΩ、Cp=0.2pF、Lp=10nH時(shí)實(shí)際電阻的阻抗曲線如圖1.94所示,因?yàn)?i>R值比較大,所以高頻時(shí)寄生電容效應(yīng)占主導(dǎo)地位,在約1megHz以上頻率時(shí)阻抗呈規(guī)律性衰減。高頻時(shí)并聯(lián)電容Cp起主要作用、相位最大滯后90°,但是很難量化寄生電容的準(zhǔn)確值,對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)通孔電阻(直插電阻)可以預(yù)估至pF級(jí)寄生電容和數(shù)nH級(jí)寄生電感,高頻電路中需要將此類寄生效應(yīng)考慮成串聯(lián)電感和并聯(lián)電阻。

圖1.94 R=1megΩ、Cp=0.2pF、Lp=10nH時(shí)的實(shí)際電阻阻抗曲線
R=10Ω、Cp=0.2pF、Lp=10nH時(shí)實(shí)際電阻的阻抗曲線如圖1.95所示,因?yàn)?i>R值比較小,所以高頻時(shí)寄生電感效應(yīng)占主導(dǎo)地位,相位最大超前90°,在約10meg rad/s以上頻率時(shí)阻抗呈規(guī)律性遞增。

圖1.95 R=10Ω、Cp=0.2pF、Lp=10nH時(shí)實(shí)際電阻的阻抗曲線
當(dāng)電阻R足夠大,使得RC22L/R或等價(jià)于時(shí),該項(xiàng)
始終存在于R、L、C電路和長(zhǎng)傳輸線中,成為該電路的特性阻抗ZO。粗略經(jīng)驗(yàn)法則如下:元件引腳在印制電路板上的電感可按照每厘米引線長(zhǎng)度的電感量為10nH計(jì)算,因此如果希望寄生電感最小化,應(yīng)該盡量保持引腳長(zhǎng)度最短。當(dāng)需要數(shù)值準(zhǔn)確時(shí),可利用阻抗分析儀(如HP4192)進(jìn)行阻抗測(cè)試,以得出準(zhǔn)確的R、L、C參數(shù)。
電路設(shè)計(jì)人員需要決定在電路中采用何種電阻類型,以滿足電路實(shí)際性能需求,例如選擇碳合成、碳薄膜、金屬薄膜、繞線電阻或其他類型的電阻。碳合成電阻是一種老式電阻,多年來(lái)一直在電子產(chǎn)品中使用;其主要優(yōu)勢(shì)在于大電流瞬態(tài)浪涌承受能力,但是其電阻率溫度系數(shù)比較高,電阻值隨溫度變化的表達(dá)式為
R(T)=RO[1+α(T-TO)]
式中,R(T)為工作溫度下的電阻值;RO為溫度TO時(shí)的參考電阻值;α為電阻率溫度系數(shù)。
碳合成電阻具有阻值隨時(shí)間漂移的趨勢(shì),大電流應(yīng)用時(shí)尤為突出,所以在現(xiàn)代電子產(chǎn)品中已經(jīng)被金屬薄膜和碳薄膜電阻大量取代。薄膜電阻具有較低的電阻率溫度系數(shù),但是當(dāng)其電氣參數(shù)過(guò)載時(shí)更加容易損壞。
繞線電阻通常應(yīng)用于大功率場(chǎng)合,由于該類電阻通過(guò)繞線制造,所以串聯(lián)電感很大,實(shí)際應(yīng)用時(shí)電路特性可能受到影響。表1.4所示為各種類型電阻性能對(duì)比,實(shí)際設(shè)計(jì)電路時(shí)根據(jù)其具體要求選擇合適的電阻類型,以發(fā)揮其最大功效。
表1.4 各種類型電阻性能對(duì)比

1.3.3 實(shí)際電解電容模型
電解電容具有等效串聯(lián)電阻和寄生電感,實(shí)際電解電容模型及其測(cè)試電路如圖1.96所示,理想電容的阻抗與頻率成反比例,但是實(shí)際電容存在等效串聯(lián)電阻和寄生電感,對(duì)其進(jìn)行高頻阻抗測(cè)試時(shí)可以對(duì)電阻和電感進(jìn)行參數(shù)辨識(shí)。
與同容量的薄膜電容和陶瓷電容相比,電解電容的等效串聯(lián)電阻很大,所以損耗很大;并且電解電容的電極由金屬片繞制而成,所以形成線圈,與其他電容相比產(chǎn)生了較大的寄生電感。
圖1.96所示的實(shí)際電解電容模型及其測(cè)試電路中的電容值C=2200μF、等效串聯(lián)電阻Rs=25mΩ、寄生電感Ls=20nH。實(shí)際電解電容阻抗特性曲線如圖1.97所示,低頻段電容C起主要作用,相位滯后90°;中頻段串聯(lián)電阻Rs起主要作用,阻抗為25mΩ,相位為0°,即在該頻率范圍內(nèi)電解電容可等效為電阻;高頻段串聯(lián)電感Ls起主要作用,相位超前90°,此時(shí)電解電容等效為電感;C與Rs構(gòu)成第1零點(diǎn),Rs與Ls構(gòu)成第2零點(diǎn)。

圖1.96 實(shí)際電解電容模型及其測(cè)試電路

圖1.97 實(shí)際電解電容阻抗特性曲線
1.3.4 實(shí)際電感模型
理想電感的阻抗表達(dá)式為
Z inductor,ideal=jωL
實(shí)際電感阻抗因?yàn)殂~線電阻與繞線電容而變化,此時(shí)阻抗表達(dá)式為

實(shí)際電感的阻抗模為

圖1.98所示為L=100μH、C=25pF、R=0.1Ω時(shí)理想電感與實(shí)際電感阻抗測(cè)試電路,圖1.99所示為理想電感與實(shí)際電感的阻抗特性曲線:頻率升高時(shí)理想電感的阻抗線性增加,相位超前恒為90°;頻率再升高時(shí)實(shí)際電感存在諧振頻率點(diǎn),諧振頻率之前阻抗增大、相位超前90°——電感起主要作用;諧振頻率點(diǎn)處阻抗出現(xiàn)尖峰、相位突降180,諧振點(diǎn)之后阻抗降低、相位滯后90°——電容起主要作用。

圖1.98 L=100μH、C=25pF、R=0.1Ω時(shí)理想電感與實(shí)際電感阻抗測(cè)試電路

圖1.99 理想電感與實(shí)際電感的阻抗特性曲線
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