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第2章

PCB在組裝中的典型故障(缺陷)案例

No.013 在PCBA組裝中PCB的斷路缺陷

1.現(xiàn)象表現(xiàn)及描述

在PCBA組裝過程中發(fā)現(xiàn)PCB有斷線缺陷,常見的主要表現(xiàn)有下述幾種形式。

1)殘液腐蝕導(dǎo)致的通孔開路

特征:多數(shù)的通孔在通孔內(nèi)壁變黑的同時(shí),下側(cè)的內(nèi)壁也被腐蝕而無銅,大多數(shù)發(fā)生在組裝過程中或長期保存過程中,如圖2.1和圖2.2所示。

圖2.1 斷裂壁的局部放大

圖2.2 被殘液腐蝕的通孔有裂縫,表面變色(箭頭所示)

2)層間剝離導(dǎo)致的通孔開路

特征:隨著PCB基板內(nèi)部的層間剝離而出現(xiàn)的通孔開路,如圖2.3所示。

圖2.3 層間剝離導(dǎo)致的通孔開路

3)玷污導(dǎo)致的盲孔開路

特征:盲孔的鍍層和盲孔連接盤之間存在樹脂或其他污物,導(dǎo)致接觸不良而開路,如圖2.4所示。

圖2.4 玷污導(dǎo)致的盲孔開路

4)焊料熔蝕導(dǎo)致的開路

特征:PCB的銅層非常薄,每逢熱風(fēng)整平工藝或波峰焊接時(shí)銅導(dǎo)線就會被熔蝕從而開路,如圖2.5所示。

圖2.5 被焊料熔蝕了的銅導(dǎo)線

5)靜電損傷疑似斷路

特征:三角形傷痕較深,前端稍微連接著的部位斷開形成開路,如圖2.6所示。

2.形成原因及機(jī)理

1)殘液腐蝕導(dǎo)致的通孔開路

在PCB制造過程中殘留的蝕液沒有被清除干凈,封閉在通孔內(nèi),長期地腐蝕通孔的內(nèi)壁,從而引起通孔開路。

2)層間剝離導(dǎo)致的通孔開路

(1)PCB基材吸潮。

(2)HASL工藝溫度過高或時(shí)間過長。

(3)PCBA組裝再流焊接時(shí)峰值溫度過高或在峰值溫度下浸泡時(shí)間過長。

3)玷污導(dǎo)致的盲孔開路

采用積層工藝制作多層板,在激光鉆孔時(shí)清除玷污不完全,使樹脂殘留在盲孔的連接盤上,從而導(dǎo)致盲孔開路。

圖2.6 靜電損傷疑似斷路

4)焊料熔蝕導(dǎo)致的開路

此現(xiàn)象通常發(fā)生在HASL工序或波峰焊接工序。由于基板上設(shè)計(jì)的銅導(dǎo)線厚度過薄或?qū)Ь€寬度過于纖細(xì),在焊接的高溫下,熔融的焊料對Cu的熔蝕作用將使銅導(dǎo)線變得更薄、更纖細(xì),在PCBA使用過程中一旦受應(yīng)力作用便會斷裂而開路。

5)靜電損傷疑似斷路

形成原因:圖2.6是靜電破壞出現(xiàn)的特有的三角形傷痕,尖端稍微連接,一旦受某種應(yīng)力作用就會斷開,從而引起斷路。

3.解決措施

(1)殘液腐蝕導(dǎo)致的通孔開路。向供應(yīng)商反饋,加強(qiáng)對PCB制造過程中的質(zhì)量監(jiān)控。

(2)層間剝離導(dǎo)致的通孔開路。

① 在PCB基板制造過程中加強(qiáng)防潮措施,嚴(yán)格監(jiān)控HASL工藝參數(shù)(溫度和時(shí)間)。

② 在組裝過程中注意PCB的防潮,并選擇合適的再流焊接峰值溫度及在峰值溫度下的浸泡時(shí)間,避免溫度過高或時(shí)間過長。

(3)玷污導(dǎo)致的盲孔開路。PCB制造廠商應(yīng)加強(qiáng)對PCB制造工藝過程和質(zhì)量的監(jiān)管和控制。

(4)焊料熔蝕導(dǎo)致的開路。

① 布線設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)避免采用過薄、過細(xì)的銅導(dǎo)線。

② 執(zhí)行HASL和波峰焊接工藝時(shí),應(yīng)加強(qiáng)對操作溫度和時(shí)間的管控,切忌操作溫度過高和操作時(shí)間過長。

(5)靜電損傷疑似斷路。在PCB制造、存儲、運(yùn)輸及組裝過程中都要執(zhí)行嚴(yán)密的靜電防護(hù)措施,嚴(yán)防靜電損傷。

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