2.3 EMC測試的實(shí)質(zhì)與共模電流

值得注意的是，不管是產(chǎn)品電路產(chǎn)生的對外騷擾還是外部注入產(chǎn)品的干擾，其在產(chǎn)品中流動時(shí)相關(guān)的差模電壓、電流和共模電壓、電流總是在相互轉(zhuǎn)換的。在抗擾度測試時(shí)，當(dāng)電纜接口上的每根信號線上注入同樣大小的共模電壓時(shí)，由于在傳輸路徑中各條信號線的共模阻抗不一樣，結(jié)果會導(dǎo)致共模電壓向差模電壓的轉(zhuǎn)變，這個(gè)轉(zhuǎn)變后的差模干擾電壓與電路中信號電壓疊加在一起產(chǎn)生干擾；同樣對于電路中工作的有用差模信號，由于寄生電感、寄生電容的作用，使信號線電流與回流路徑中的電流不一樣時(shí)，就實(shí)現(xiàn)差模與共模的轉(zhuǎn)換，產(chǎn)品最后表現(xiàn)為嚴(yán)重的共模EMI問題。因此，雖然不能說EMC問題本質(zhì)是共模問題，但是就差模問題與共模問題比較而言，共模問題更值得重視。共模電流和共模電壓的傳輸路徑相對于差模電壓和差模電流的傳輸路徑更難確定，給EMC問題的分析帶來了一定的難度。如果能分析好產(chǎn)品中的共模電流問題，那么產(chǎn)品的EMC問題也會變得比較簡單。

例如，在標(biāo)準(zhǔn)IEC61000和標(biāo)準(zhǔn)ISO提供的相關(guān)實(shí)驗(yàn)原理圖中可以看到從干擾發(fā)生器來的信號一端通常通過可供選擇的耦合裝置同時(shí)注入在電源線或信號線的各導(dǎo)體上，另一端與參考接地板相連，同時(shí)，發(fā)生器機(jī)殼也連接至參考接地板。這就表明這種干擾實(shí)際上是加在電源線、信號線與參考地之間的，這種干擾是共模干擾。

本書中所述的“共模電流”主要是指兩種共模電流：第一種是抗擾度EMC測試（典型的是EFT/B抗擾度測試）時(shí)，注入產(chǎn)品各種接口上并在產(chǎn)品內(nèi)部電路或結(jié)構(gòu)傳輸或流動的共模干擾電流，它總是從抗擾度測試發(fā)生器發(fā)出，經(jīng)過被測產(chǎn)品，再回到的參考接地板（EMC測試標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定）；第二種是EMI共模騷擾電流，它是在產(chǎn)品內(nèi)部由差模方式傳遞的正常工作信號，是在傳遞過程中，由于寄生參數(shù)的存在而額外形成的。流向產(chǎn)品的各種接口是這類電流的基本特點(diǎn)。另外，值得一提的是，研究抗擾度意義上的共模電流和研究EMI意義上的共模電流并不矛盾。對于產(chǎn)品設(shè)計(jì)來說，如果產(chǎn)品設(shè)計(jì)造成外部注入共模干擾電流，那么也會造成EMI共模騷擾電流。