1.2　本書內(nèi)容的安排

本書是為從事石墨烯及其他二維晶體領(lǐng)域的科研人員而編寫，旨在介紹石墨烯及其他二維晶體顯微結(jié)構(gòu)表征方面的技術(shù)方法和進展，使初識石墨烯及其他二維晶體的讀者對其形貌、結(jié)構(gòu)有直觀的認識。在過去十余年里，二維晶體的微區(qū)物性表征領(lǐng)域欣欣向榮，想要全面地涵蓋所有已經(jīng)發(fā)表的工作幾乎是不可能的。本書只能有限地就透射電子顯微技術(shù)及電子束微分析方法在石墨烯及其他二維晶體結(jié)構(gòu)研究中的應(yīng)用進行介紹和討論。

本書第2～6章介紹了透射電子顯微學和電子束微分析方法及其在二維材料物性研究方面的應(yīng)用，主要包括電子衍射、高分辨透射電子顯微像、高分辨掃描透射電子顯微像、電子能量損失譜和原位透射電子顯微學。最后，本書還簡單介紹了光學顯微技術(shù)和掃描探針顯微技術(shù)在二維晶體結(jié)構(gòu)表征方面的應(yīng)用。

希望本書能使初識石墨烯、電子顯微學和電子束微分析的讀者能有所收獲。