- 熱電材料性能研究與制備
- 鄧樂 賈曉鵬 馬紅安
- 535字
- 2020-07-01 15:50:12
2.4 Seebeck系數的測量技術
Seebeck系數的測量公式為α=ΔV/ΔT,其中,ΔV為給予測試樣品兩端的電勢差,ΔT是測試樣品兩端的溫差。因此,當我們測得了ΔV和ΔT之后,就可以利用上述公式計算得出ΔV/ΔT的比值,再將α與溫度作一直線,這條直線的斜率就是所要求得的Seebeck系數值。
本書中所用的室溫下的Seebeck系數測試方法是在J.V.Badding等的高壓在位測量技術的基礎上進一步改進得來的。這是一套我們完全自行設計的測試設備,對樣品的大小等并無太復雜的要求,也因此十分便于進行Seebeck系數的測量。

圖2.9 Seebeck系數樣品測試示意
圖2.9為我們自行設計的Seebeck系數樣品測試示意,圖中電阻加熱處為纏繞一定數量的電阻絲,通過給電阻絲通以電流來進行加熱,這樣也便于溫差的調節。
圖2.9中:
V1=(αNiAl-αS)ΔT (2.8)
V2=(αNiCr-αS)ΔT (2.9)
式中 V1——1上的電動勢,V;
V2——2上的電動勢,V;
αNiAl——NiAl的溫差電動勢,V;
αNiCr——NiCr的溫差電動勢,V;
αS——兩種材料間的賽貝克系數,μV/K;
ΔT——溫差,K。
聯立公式(2.8)和公式(2.9),則:
αS=-V1×(αNiAl-αNiCr)/(V1-V2)+αNiAl (2.10)
從上面公式可知,假如我們已知αNiAl和αNiCr,而且V1和V2是可以通過測量得來的,那么Seebeck系數值便可以通過公式(2.10)計算求得。在實驗裝置的設置上,我們的數據采集卡選用的是NI-PC6013型的數據采集卡,采集頻率為50Hz。