- 參考文獻 更新時間：2018-12-27 16:43:56
- 本章參考文獻
- 思考題與習題11
- 11.3.3 世界光電子技術發展趨勢[29]
- 11.3.2 光電技術的應用
- 11.3.1 光電技術的若干進展
- 11.3 光電技術的發展趨勢
- 11.2 頻率上轉換光電探測技術
- 11.1 泵浦探測技術
- 第11章 光電技術的新發展
- 思考題與習題10
- 10.9 激光多普勒測速技術
- 10.8.2 醫用真空圖像傳感器的應用
- 10.8.1 X射線圖像增強器
- 10.8 醫用真空圖像傳感器檢測技術
- 10.7 表面粗糙度的檢測方法
- 10.6.4 光盤存儲
- 10.6.3 激光打印機和復印機
- 10.6.2 激光雕刻凸版和凹版機
- 10.6.1 激光照排系統
- 10.6 光電信息變換技術在印刷出版工業中的應用
- 10.5 光學系統透過率測試技術
- 10.4.3 紅外跟蹤制導
- 10.4.2 激光制導
- 10.4.1 搜索儀與跟蹤儀
- 10.4 光電信息變換技術在搜索、跟蹤與制導中的應用
- 10.3 利用激光準直技術測量物體的直線度與同軸度
- 10.2 光學傳遞函數檢測技術
- 10.1.2 板材定長裁剪系統
- 10.1.1 鋼板寬度的非接觸自動測量
- 10.1 長度量光電測量
- 第10章 光電信息變換技術的典型應用
- 思考題與習題9
- 9.4.2 基于PCI總線的圖像采集卡
- 9.4.1 基于 PC總線的圖像采集卡
- 9.4 視頻信號的A/D數據采集
- 9.3.4 序列光電信號的A/D數據采集與計算機接口
- 9.3.3 序列光電信號的量化處理
- 9.3.2 單元光電信號的A/D數據采集
- 9.3.1 單元光電信號的量化處理
- 9.3 光電信號的量化處理與A/D數據采集
- 9.2 光電信號的二值化數據采集與接口
- 9.1.2 序列光電信號的二值化處理
- 9.1.1 單元光電信號的二值化處理
- 9.1 光電信號的二值化處理
- 第9章 光電信號的數據采集與計算機接口技術
- 思考題與習題8
- ?8.7.3像增強器的級聯
- 8.7.2 性能參數
- 8.7.1 工作原理及其典型結構
- 8.7 圖像的增強與變像
- 8.6 紅外熱成像
- 8.5.2 典型CMOS圖像傳感器
- 8.5.1 CMOS成像器件的結構原理
- 8.5 CMOS圖像傳感器
- 8.4.2 面陣CCD圖像傳感器
- 8.4.1 線陣CCD圖像傳感器
- 8.4 電荷耦合器件
- ?8.3真空攝像管
- 8.2.2 電視制式
- 8.2.1 光電成像原理
- 8.2 光電成像原理與電視制式
- 8.1 圖像傳感器簡介
- 第8章 圖像信息的光電變換
- 思考題與習題7
- 7.5.3 調制信號的解調
- 7.5.2 信號的調制
- 7.5.1 調制的基本原理與類型
- 7.5 時變光電信息的調制
- 7.4.2 衍射方法的光電信息變換
- 7.4.1 干涉方法的光電信息變換
- 7.4 物理光學方法的光電信息變換
- 7.3.3 速度信息的光電變換
- 7.3.2 位移信息的光電變換
- 7.3.1 長、寬尺寸信息的光電變換
- 7.3 幾何光學方法的光電信息變換
- 7.2.2 模-數光電變換電路
- 7.2.1 模擬光電變換電路
- 7.2 光電變換電路的分類
- 7.1.2 光電信息變換的類型
- 7.1.1 光電信息變換的基本形式
- 7.1 光電信息變換的分類
- 第7章 光電信息變換
- 思考題與習題6
- 6.5 光電耦合器件的應用
- 6.4.2 光電耦合器件的特性參數
- 6.4.1 光電耦合器件的結構與電路符號
- 6.4 光電耦合器件
- ?6.3.2半導體激光器的結構
- 6.3.1 半導體激光器的發光原理
- 6.3 半導體激光器
- 6.2 發光二極管的應用
- 6.1 發光二極管的基本工作原理與特性
- 第6章 發光器件與光電耦合器件
- 思考題與習題5
- 5.4 熱探測器概述
- 5.3.5 典型熱釋電器件
- 5.3.4 熱釋電器件的類型
- 5.3.3 熱釋電器件的噪聲
- 5.3.2 熱釋電器件的靈敏度
- 5.3.1 熱釋電器件的基本工作原理
- 5.3 熱釋電器件
- ?5.2.3熱電堆探測器
- 5.2.2 熱電偶探測器
- 5.2.1 熱敏電阻
- 5.2 熱敏電阻與熱電堆探測器
- 5.1 熱輻射的一般規律
- 第5章 熱輻射探測器件
- 思考題與習題4
- ?4.5.2時間分辨熒光免疫分析中的應用
- 4.5.1 光譜探測領域的應用
- 4.5 光電倍增管的典型應用
- 4.4 光電倍增管的供電電路
- 4.3 光電倍增管的基本特性
- ?4.2.3光電倍增管的結構
- 4.2.2 光電倍增管的基本原理
- 4.2.1 真空光電管的原理
- 4.2 真空光電管與光電倍增管的工作原理
- ?4.1.2光電陰極材料
- 4.1.1 光電發射陰極的主要特性參數
- 4.1 光電發射陰極
- 第4章 光電發射器件
- 思考題與習題3
- 3.4 半導體光電器件的特性參數與選擇
- 3.3.2 零伏偏置電路
- 3.3.1 反向偏置電路
- 3.3 光生伏特器件的偏置電路
- ?3.2.7光電位置敏感器件（PSD）
- 3.2.6 光生伏特器件組合件
- 3.2.5 色敏光生伏特器件
- 3.2.4 光電三極管
- 3.2.3 硅光電池
- 3.2.2 雪崩光電二極管
- 3.2.1 PIN型光電二極管
- 3.2 其他類型的光生伏特器件
- 3.1.2 光電二極管的基本特性
- 3.1.1 硅光電二極管的工作原理
- 3.1 硅光電二極管
- 第3章 光生伏特器件
- 思考題與習題2
- 2.4 光敏電阻的應用實例
- 2.3 光敏電阻的變換電路
- 2.2 光敏電阻的基本特性
- 2.1 光敏電阻的原理與結構
- 第2章 光電導器件
- 思考題與習題1
- 1.6.2 光電發射效應
- 1.6.1 內光電效應
- 1.6 光電效應
- 1.5 半導體對光的吸收
- 1.4 輻射度參數與光度參數的關系
- ?1.3.2輻射體的分類及其溫度表示
- 1.3.1 黑體輻射定律
- 1.3 物體熱輻射
- 1.2 光譜輻射分布與量子流速率
- 1.1.2 與接收器有關的輻射度參數及光度參數
- 1.1.1 與光源有關的輻射度參數與光度參數
- 1.1 光輻射的度量
- 第1章 光電技術基礎
- 前言
- 版權信息
- 封面
- 封面
- 版權信息
- 前言
- 第1章 光電技術基礎
- 1.1 光輻射的度量
- 1.1.1 與光源有關的輻射度參數與光度參數
- 1.1.2 與接收器有關的輻射度參數及光度參數
- 1.2 光譜輻射分布與量子流速率
- 1.3 物體熱輻射
- 1.3.1 黑體輻射定律
- ?1.3.2輻射體的分類及其溫度表示
- 1.4 輻射度參數與光度參數的關系
- 1.5 半導體對光的吸收
- 1.6 光電效應
- 1.6.1 內光電效應
- 1.6.2 光電發射效應
- 思考題與習題1
- 第2章 光電導器件
- 2.1 光敏電阻的原理與結構
- 2.2 光敏電阻的基本特性
- 2.3 光敏電阻的變換電路
- 2.4 光敏電阻的應用實例
- 思考題與習題2
- 第3章 光生伏特器件
- 3.1 硅光電二極管
- 3.1.1 硅光電二極管的工作原理
- 3.1.2 光電二極管的基本特性
- 3.2 其他類型的光生伏特器件
- 3.2.1 PIN型光電二極管
- 3.2.2 雪崩光電二極管
- 3.2.3 硅光電池
- 3.2.4 光電三極管
- 3.2.5 色敏光生伏特器件
- 3.2.6 光生伏特器件組合件
- ?3.2.7光電位置敏感器件（PSD）
- 3.3 光生伏特器件的偏置電路
- 3.3.1 反向偏置電路
- 3.3.2 零伏偏置電路
- 3.4 半導體光電器件的特性參數與選擇
- 思考題與習題3
- 第4章 光電發射器件
- 4.1 光電發射陰極
- 4.1.1 光電發射陰極的主要特性參數
- ?4.1.2光電陰極材料
- 4.2 真空光電管與光電倍增管的工作原理
- 4.2.1 真空光電管的原理
- 4.2.2 光電倍增管的基本原理
- ?4.2.3光電倍增管的結構
- 4.3 光電倍增管的基本特性
- 4.4 光電倍增管的供電電路
- 4.5 光電倍增管的典型應用
- 4.5.1 光譜探測領域的應用
- ?4.5.2時間分辨熒光免疫分析中的應用
- 思考題與習題4
- 第5章 熱輻射探測器件
- 5.1 熱輻射的一般規律
- 5.2 熱敏電阻與熱電堆探測器
- 5.2.1 熱敏電阻
- 5.2.2 熱電偶探測器
- ?5.2.3熱電堆探測器
- 5.3 熱釋電器件
- 5.3.1 熱釋電器件的基本工作原理
- 5.3.2 熱釋電器件的靈敏度
- 5.3.3 熱釋電器件的噪聲
- 5.3.4 熱釋電器件的類型
- 5.3.5 典型熱釋電器件
- 5.4 熱探測器概述
- 思考題與習題5
- 第6章 發光器件與光電耦合器件
- 6.1 發光二極管的基本工作原理與特性
- 6.2 發光二極管的應用
- 6.3 半導體激光器
- 6.3.1 半導體激光器的發光原理
- ?6.3.2半導體激光器的結構
- 6.4 光電耦合器件
- 6.4.1 光電耦合器件的結構與電路符號
- 6.4.2 光電耦合器件的特性參數
- 6.5 光電耦合器件的應用
- 思考題與習題6
- 第7章 光電信息變換
- 7.1 光電信息變換的分類
- 7.1.1 光電信息變換的基本形式
- 7.1.2 光電信息變換的類型
- 7.2 光電變換電路的分類
- 7.2.1 模擬光電變換電路
- 7.2.2 模-數光電變換電路
- 7.3 幾何光學方法的光電信息變換
- 7.3.1 長、寬尺寸信息的光電變換
- 7.3.2 位移信息的光電變換
- 7.3.3 速度信息的光電變換
- 7.4 物理光學方法的光電信息變換
- 7.4.1 干涉方法的光電信息變換
- 7.4.2 衍射方法的光電信息變換
- 7.5 時變光電信息的調制
- 7.5.1 調制的基本原理與類型
- 7.5.2 信號的調制
- 7.5.3 調制信號的解調
- 思考題與習題7
- 第8章 圖像信息的光電變換
- 8.1 圖像傳感器簡介
- 8.2 光電成像原理與電視制式
- 8.2.1 光電成像原理
- 8.2.2 電視制式
- ?8.3真空攝像管
- 8.4 電荷耦合器件
- 8.4.1 線陣CCD圖像傳感器
- 8.4.2 面陣CCD圖像傳感器
- 8.5 CMOS圖像傳感器
- 8.5.1 CMOS成像器件的結構原理
- 8.5.2 典型CMOS圖像傳感器
- 8.6 紅外熱成像
- 8.7 圖像的增強與變像
- 8.7.1 工作原理及其典型結構
- 8.7.2 性能參數
- ?8.7.3像增強器的級聯
- 思考題與習題8
- 第9章 光電信號的數據采集與計算機接口技術
- 9.1 光電信號的二值化處理
- 9.1.1 單元光電信號的二值化處理
- 9.1.2 序列光電信號的二值化處理
- 9.2 光電信號的二值化數據采集與接口
- 9.3 光電信號的量化處理與A/D數據采集
- 9.3.1 單元光電信號的量化處理
- 9.3.2 單元光電信號的A/D數據采集
- 9.3.3 序列光電信號的量化處理
- 9.3.4 序列光電信號的A/D數據采集與計算機接口
- 9.4 視頻信號的A/D數據采集
- 9.4.1 基于 PC總線的圖像采集卡
- 9.4.2 基于PCI總線的圖像采集卡
- 思考題與習題9
- 第10章 光電信息變換技術的典型應用
- 10.1 長度量光電測量
- 10.1.1 鋼板寬度的非接觸自動測量
- 10.1.2 板材定長裁剪系統
- 10.2 光學傳遞函數檢測技術
- 10.3 利用激光準直技術測量物體的直線度與同軸度
- 10.4 光電信息變換技術在搜索、跟蹤與制導中的應用
- 10.4.1 搜索儀與跟蹤儀
- 10.4.2 激光制導
- 10.4.3 紅外跟蹤制導
- 10.5 光學系統透過率測試技術
- 10.6 光電信息變換技術在印刷出版工業中的應用
- 10.6.1 激光照排系統
- 10.6.2 激光雕刻凸版和凹版機
- 10.6.3 激光打印機和復印機
- 10.6.4 光盤存儲
- 10.7 表面粗糙度的檢測方法
- 10.8 醫用真空圖像傳感器檢測技術
- 10.8.1 X射線圖像增強器
- 10.8.2 醫用真空圖像傳感器的應用
- 10.9 激光多普勒測速技術
- 思考題與習題10
- 第11章 光電技術的新發展
- 11.1 泵浦探測技術
- 11.2 頻率上轉換光電探測技術
- 11.3 光電技術的發展趨勢
- 11.3.1 光電技術的若干進展
- 11.3.2 光電技術的應用
- 11.3.3 世界光電子技術發展趨勢[29]
- 思考題與習題11
- 本章參考文獻
- 參考文獻 更新時間：2018-12-27 16:43:56
