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集成電路測試基礎
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封底
本書系統地介紹了集成電路測試所涉及的基礎知識和實踐經驗。全書共分為15章。其內容包括實際的導線、電阻、電容、電感元件在測試電路中的影響，自動測試設備（ATE）V/I源的基本原理和實際應用限制，一些簡單的模擬和數字集成電路測試原理和方法，測試數據分析的常用方法，以及測試電路相關的信號完整性方面的簡單介紹，并結合測試開發的實際案例講解了集成電路測試項目開發流程。以往這些內容分散到不同教材中，缺乏系統性。本書以集成電路測試為主線，從ATE應用角度，結合編者多年來的研發和應用經驗，將基礎知識串聯起來。尤其從測試行業新人培養出發，加入了V/I源的基本原理和實際應用限制的講解，并提供了仿真模型，使讀者能夠快速、全面地了解集成電路測試所需的各項基礎知識。本書可作為集成電路測試工程師的學習教材，或者集成電路自動測試設備應用工程師的基礎知識培訓教材。
- 封底 更新時間：2024-03-22 12:11:03
- 參考文獻
- 附錄 采樣定理以及ADC的量化噪聲
- 15.2.7 Func_AA的測試
- 15.2.6 IIL/IIH/ISB的測試
- 15.2.5 連續性測試
- 15.2.4 測試程序的Datasheet與Bin設置
- 15.2.3 測試程序的PIN MAP設置
- 15.2.2 測試工程的新建
- 15.2.1 測試電路的設計
- 15.2 測試方案的設計與調試
- 15.1.6 Testplan的分析
- 15.1.5 Datasheet里的直流參數含義
- 15.1.4 Datasheet里的I2C總線介紹
- 15.1.3 Datasheet里的物理連接介紹
- 15.1.2 Datasheet里的存儲空間介紹
- 15.1.1 Datasheet里的總體性能描述
- 15.1 Datasheet與Testplan的分析
- 第15章 I2C接口的EEPROM存儲器測試
- 14.7.3 測試結果
- 14.7.2 測試項目的調試
- 14.7.1 測試項目的啟動
- 14.7 測試程序的調試
- 14.6.4 測試函數的編寫
- 14.6.3 測試程序的Datasheet與Bin設置
- 14.6.2 測試程序的PIN MAP設置
- 14.6.1 測試工程的新建
- 14.6 測試函數的編寫
- 14.5.10 ATE的資源分配
- 14.5.9 壓擺率（SR）
- 14.5.8 開環放大倍數（AVOL）
- 14.5.7 共模抑制比（CMRR）
- 14.5.6 電源抑制比（PSRR）
- 14.5.5 輸入偏置電流（IB），輸入失調電流（IOS）
- 14.5.4 輸入失調電壓（VOS）
- 14.5.3 輸出高電平（VOH），輸出低電平（VOL）
- 14.5.2 靜態電流（IQ）
- 14.5.1 連續性（Continuity）
- 14.5 測試方案的設計
- 14.4 Testplan的分析
- 14.3.8 運放的壓擺率（SR）參數測試
- 14.3.7 運放的開環電壓增益AVO（AVOL）參數測試
- 14.3.6 運放的PSRR參數測試
- 14.3.5 運放的IQ（ICC）參數測試
- 14.3.4 運放的VOH和VOL參數測試
- 14.3.3 運放的IB（IIB）參數測試
- 14.3.2 運放的CMRR參數測試
- 14.3.1 運放的VIO（VOS）參數測試
- 14.3 集成運算放大器的測試方法
- 14.2.4 電氣特性
- 14.2.3 功能原理框圖
- 14.2.2 引腳定義與封裝
- 14.2.1 重要特性
- 14.2 Datasheet的分析
- 14.1.2 工作模式
- 14.1.1 特征
- 14.1 集成運算放大器的基本特性
- 第14章 集成運算放大器的測試
- 13.2.8 電源紋波抑制比
- 13.2.7 最大負載電流
- 13.2.6 最小負載電流
- 13.2.5 調整腳電流
- 13.2.4 參考電壓
- 13.2.3 負載調整率
- 13.2.2 線性調整率
- 13.2.1 Open-Short測試
- 13.2 測試方案的設計與調試
- 13.1.4 Testplan里的測試方法
- 13.1.3 Testplan里的測試規格
- 13.1.2 Datasheet里的電氣特性
- 13.1.1 Datasheet里的總體性能描述
- 13.1 Datasheet與Testplan的分析
- 第13章 LDO的測試
- 12.4 測試方案開發流程
- 12.3 測試函數的完整結構
- 12.2 測試程序的執行過程
- 12.1 測試程序開發流程
- 第12章 測試方案開發簡介
- 11.3 QT-8100測試系統軟件系統組成
- 11.2.7 QT-8100測試系統的培訓板簡介
- 11.2.6 QT-8100測試系統的背板簡介
- 11.2.5 QT-8100測試系統的通道資源簡介
- 11.2.4 QT-8100測試系統的機架結構組成
- 11.2.3 QT-8100測試系統的主要模塊和板卡
- 11.2.2 QT-8100測試系統的硬件系統框圖
- 11.2.1 QT-8100測試系統的整體結構
- 11.2 QT-8100測試系統硬件系統組成
- 11.1.3 QT-8100測試系統的基礎配置
- 11.1.2 QT-8100測試系統適用的測試過程
- 11.1.1 QT-8100測試系統可測試的器件類型
- 11.1 QT-8100測試系統功能概述
- 第11章 實訓平臺介紹
- 10.4 測試電路的地
- 10.3 時域反射計（TDR）與線長校準
- 10.2 使用一階RC電路仿真上升沿時間與帶寬的關系
- 10.1 方波的傅里葉級數
- 第10章 信號和電源完整性簡介
- 9.7 多Sites并行測試的效率以及UPH計算
- 9.6 測試數據統計分析圖
- 9.5 多Sites并行測試的數據驗證
- 9.4 測試能力研究（TCS）
- 9.3.2 儀器驗收的GRR計算
- 9.3.1 不同配置之間的GRR計算
- 9.3 重復性與再現性（GRR）
- 9.2 相關性驗證（CORR）
- 9.1 基本概念
- 第9章 測試數據分析
- 8.5.5 SPI通信的存儲器
- 8.5.4 I2C通信的存儲器
- 8.5.3 數字IO口的AC參數
- 8.5.2 數字IO口的DC參數
- 8.5.1 數字芯片的文檔
- 8.5 數字通信測試
- 8.4.5 運放的其他參數
- 8.4.4 運放的輸入偏置電流測試
- 8.4.3 運放的CMRR參數測試
- 8.4.2 運放的VIO參數測試
- 8.4.1 運放的測試電路
- 8.4 運算放大器測試
- 8.3.7 輸出短路電流
- 8.3.6 紋波抑制比
- 8.3.5 最小負載電流
- 8.3.4 輸出電流（Iadj）測試
- 8.3.3 負載調整率
- 8.3.2 線性調整率
- 8.3.1 參考電壓
- 8.3 LDO的測試
- 8.2 接觸（Contact）測試/開爾文（Kelvin）測試
- 8.1 開短路（Open-Short）測試
- 第8章 測試方法基礎
- 7.3.5 FFT計算的注意事項
- 7.3.4 THD和SNR等頻域參數的計算
- 7.3.3 快速傅里葉變換
- 7.3.2 窗函數解決頻譜泄漏的應用
- 7.3.1 離散傅里葉變換和窗函數濾波器的頻譜
- 7.3 傅里葉變換
- 7.2.2 FIR濾波器
- 7.2.1 卷積
- 7.2 卷積與FIR濾波器
- 7.1 移動平均濾波
- 第7章 數字信號處理基礎
- 6.6.4 相位補償的靈活運用
- 6.6.3 運放環路增益精確測量的兩種方法
- 6.6.2 相位補償理論基礎
- 6.6.1 極點和零點
- 6.6 相位補償基礎
- 6.5.4 分頻電路
- 6.5.3 隔離轉換
- 6.5.2 電平調整
- 6.5.1 鉗位限幅
- 6.5 信號修調電路
- 6.4.5 脈寬檢測
- 6.4.4 邊沿檢測
- 6.4.3 采樣保持
- 6.4.2 濾波電路
- 6.4.1 峰值提取
- 6.4 特性提取電路
- 6.3.3 滯回比較器
- 6.3.2 窗口比較器
- 6.3.1 單限比較器
- 6.3 比較電路
- 6.2.3 測試三極管的VBE
- 6.2.2 電壓電流轉換
- 6.2.1 電流電壓轉換
- 6.2 電壓與電流轉換電路
- 6.1.2 電壓衰減電路
- 6.1.1 電壓放大電路
- 6.1 電壓放大與衰減電路
- 第6章 模擬信號調理基礎
- 5.3 非線性校準與數據擬合
- 5.2 線性校準的原理與方法
- 5.1.2 基于規格允許的誤差選擇元件參數
- 5.1.1 基于已有的元件參數計算電路誤差
- 5.1 基于誤差的計算
- 第5章 誤差與校準
- 4.3 程序設計的防誤方法
- 4.2 程序設計的風格
- 4.1 測試程序的特殊要求
- 第4章 測試程序設計要求
- 3.4.5 有源負載電路
- 3.4.4 比較輸入電路
- 3.4.3 驅動輸出電路
- 3.4.2 直流參數測量電路
- 3.4.1 電源供電電路
- 3.4 數字測試源
- 3.3.3 掃描測量
- 3.3.2 時間測量
- 3.3.1 電壓測量
- 3.3 ATE的測量電路
- 3.2.3 高度模型化的V/I源
- 3.2.2 反饋響應時間
- 3.2.1 輸出穩定時間
- 3.2 V/I源的限制
- 3.1.5 V/I源的測量
- 3.1.4 波形發生器模式
- 3.1.3 電流輸出模式
- 3.1.2 電壓輸出模式
- 3.1.1 整體結構
- 3.1 V/I源的基本結構
- 第3章 電源與測量的基本電路
- 2.6 繼電器和電子開關
- 2.5.2 負載效應的影響
- 2.5.1 驅動能力的限制
- 2.5 驅動與負載
- 2.4.2 實際電路中的電感
- 2.4.1 電感的作用
- 2.4 實際的電感
- 2.3.3 電壓驅動電阻電容（RC）電路的一階系統響應
- 2.3.2 實際電路中的電容
- 2.3.1 電容的參數以及影響
- 2.3 實際的電容
- 2.2.2 實際電阻的分壓電路
- 2.2.1 電阻的作用
- 2.2 實際的電阻
- 2.1.3 磁環與磁珠
- 2.1.2 屏蔽與驅動保護
- 2.1.1 開爾文連接
- 2.1 實際的導線
- 第2章 從理想電路到實際電路
- 1.4 英文縮寫
- 1.3 一些小約定
- 1.2 準備工作
- 1.1 集成電路測試相關書籍和標準推薦
- 第1章 關于集成電路測試
- 前言
- 序言
- 內容簡介
- 版權信息
- 封面
- 封面
- 版權信息
- 內容簡介
- 序言
- 前言
- 第1章 關于集成電路測試
- 1.1 集成電路測試相關書籍和標準推薦
- 1.2 準備工作
- 1.3 一些小約定
- 1.4 英文縮寫
- 第2章 從理想電路到實際電路
- 2.1 實際的導線
- 2.1.1 開爾文連接
- 2.1.2 屏蔽與驅動保護
- 2.1.3 磁環與磁珠
- 2.2 實際的電阻
- 2.2.1 電阻的作用
- 2.2.2 實際電阻的分壓電路
- 2.3 實際的電容
- 2.3.1 電容的參數以及影響
- 2.3.2 實際電路中的電容
- 2.3.3 電壓驅動電阻電容（RC）電路的一階系統響應
- 2.4 實際的電感
- 2.4.1 電感的作用
- 2.4.2 實際電路中的電感
- 2.5 驅動與負載
- 2.5.1 驅動能力的限制
- 2.5.2 負載效應的影響
- 2.6 繼電器和電子開關
- 第3章 電源與測量的基本電路
- 3.1 V/I源的基本結構
- 3.1.1 整體結構
- 3.1.2 電壓輸出模式
- 3.1.3 電流輸出模式
- 3.1.4 波形發生器模式
- 3.1.5 V/I源的測量
- 3.2 V/I源的限制
- 3.2.1 輸出穩定時間
- 3.2.2 反饋響應時間
- 3.2.3 高度模型化的V/I源
- 3.3 ATE的測量電路
- 3.3.1 電壓測量
- 3.3.2 時間測量
- 3.3.3 掃描測量
- 3.4 數字測試源
- 3.4.1 電源供電電路
- 3.4.2 直流參數測量電路
- 3.4.3 驅動輸出電路
- 3.4.4 比較輸入電路
- 3.4.5 有源負載電路
- 第4章 測試程序設計要求
- 4.1 測試程序的特殊要求
- 4.2 程序設計的風格
- 4.3 程序設計的防誤方法
- 第5章 誤差與校準
- 5.1 基于誤差的計算
- 5.1.1 基于已有的元件參數計算電路誤差
- 5.1.2 基于規格允許的誤差選擇元件參數
- 5.2 線性校準的原理與方法
- 5.3 非線性校準與數據擬合
- 第6章 模擬信號調理基礎
- 6.1 電壓放大與衰減電路
- 6.1.1 電壓放大電路
- 6.1.2 電壓衰減電路
- 6.2 電壓與電流轉換電路
- 6.2.1 電流電壓轉換
- 6.2.2 電壓電流轉換
- 6.2.3 測試三極管的VBE
- 6.3 比較電路
- 6.3.1 單限比較器
- 6.3.2 窗口比較器
- 6.3.3 滯回比較器
- 6.4 特性提取電路
- 6.4.1 峰值提取
- 6.4.2 濾波電路
- 6.4.3 采樣保持
- 6.4.4 邊沿檢測
- 6.4.5 脈寬檢測
- 6.5 信號修調電路
- 6.5.1 鉗位限幅
- 6.5.2 電平調整
- 6.5.3 隔離轉換
- 6.5.4 分頻電路
- 6.6 相位補償基礎
- 6.6.1 極點和零點
- 6.6.2 相位補償理論基礎
- 6.6.3 運放環路增益精確測量的兩種方法
- 6.6.4 相位補償的靈活運用
- 第7章 數字信號處理基礎
- 7.1 移動平均濾波
- 7.2 卷積與FIR濾波器
- 7.2.1 卷積
- 7.2.2 FIR濾波器
- 7.3 傅里葉變換
- 7.3.1 離散傅里葉變換和窗函數濾波器的頻譜
- 7.3.2 窗函數解決頻譜泄漏的應用
- 7.3.3 快速傅里葉變換
- 7.3.4 THD和SNR等頻域參數的計算
- 7.3.5 FFT計算的注意事項
- 第8章 測試方法基礎
- 8.1 開短路（Open-Short）測試
- 8.2 接觸（Contact）測試/開爾文（Kelvin）測試
- 8.3 LDO的測試
- 8.3.1 參考電壓
- 8.3.2 線性調整率
- 8.3.3 負載調整率
- 8.3.4 輸出電流（Iadj）測試
- 8.3.5 最小負載電流
- 8.3.6 紋波抑制比
- 8.3.7 輸出短路電流
- 8.4 運算放大器測試
- 8.4.1 運放的測試電路
- 8.4.2 運放的VIO參數測試
- 8.4.3 運放的CMRR參數測試
- 8.4.4 運放的輸入偏置電流測試
- 8.4.5 運放的其他參數
- 8.5 數字通信測試
- 8.5.1 數字芯片的文檔
- 8.5.2 數字IO口的DC參數
- 8.5.3 數字IO口的AC參數
- 8.5.4 I2C通信的存儲器
- 8.5.5 SPI通信的存儲器
- 第9章 測試數據分析
- 9.1 基本概念
- 9.2 相關性驗證（CORR）
- 9.3 重復性與再現性（GRR）
- 9.3.1 不同配置之間的GRR計算
- 9.3.2 儀器驗收的GRR計算
- 9.4 測試能力研究（TCS）
- 9.5 多Sites并行測試的數據驗證
- 9.6 測試數據統計分析圖
- 9.7 多Sites并行測試的效率以及UPH計算
- 第10章 信號和電源完整性簡介
- 10.1 方波的傅里葉級數
- 10.2 使用一階RC電路仿真上升沿時間與帶寬的關系
- 10.3 時域反射計（TDR）與線長校準
- 10.4 測試電路的地
- 第11章 實訓平臺介紹
- 11.1 QT-8100測試系統功能概述
- 11.1.1 QT-8100測試系統可測試的器件類型
- 11.1.2 QT-8100測試系統適用的測試過程
- 11.1.3 QT-8100測試系統的基礎配置
- 11.2 QT-8100測試系統硬件系統組成
- 11.2.1 QT-8100測試系統的整體結構
- 11.2.2 QT-8100測試系統的硬件系統框圖
- 11.2.3 QT-8100測試系統的主要模塊和板卡
- 11.2.4 QT-8100測試系統的機架結構組成
- 11.2.5 QT-8100測試系統的通道資源簡介
- 11.2.6 QT-8100測試系統的背板簡介
- 11.2.7 QT-8100測試系統的培訓板簡介
- 11.3 QT-8100測試系統軟件系統組成
- 第12章 測試方案開發簡介
- 12.1 測試程序開發流程
- 12.2 測試程序的執行過程
- 12.3 測試函數的完整結構
- 12.4 測試方案開發流程
- 第13章 LDO的測試
- 13.1 Datasheet與Testplan的分析
- 13.1.1 Datasheet里的總體性能描述
- 13.1.2 Datasheet里的電氣特性
- 13.1.3 Testplan里的測試規格
- 13.1.4 Testplan里的測試方法
- 13.2 測試方案的設計與調試
- 13.2.1 Open-Short測試
- 13.2.2 線性調整率
- 13.2.3 負載調整率
- 13.2.4 參考電壓
- 13.2.5 調整腳電流
- 13.2.6 最小負載電流
- 13.2.7 最大負載電流
- 13.2.8 電源紋波抑制比
- 第14章 集成運算放大器的測試
- 14.1 集成運算放大器的基本特性
- 14.1.1 特征
- 14.1.2 工作模式
- 14.2 Datasheet的分析
- 14.2.1 重要特性
- 14.2.2 引腳定義與封裝
- 14.2.3 功能原理框圖
- 14.2.4 電氣特性
- 14.3 集成運算放大器的測試方法
- 14.3.1 運放的VIO（VOS）參數測試
- 14.3.2 運放的CMRR參數測試
- 14.3.3 運放的IB（IIB）參數測試
- 14.3.4 運放的VOH和VOL參數測試
- 14.3.5 運放的IQ（ICC）參數測試
- 14.3.6 運放的PSRR參數測試
- 14.3.7 運放的開環電壓增益AVO（AVOL）參數測試
- 14.3.8 運放的壓擺率（SR）參數測試
- 14.4 Testplan的分析
- 14.5 測試方案的設計
- 14.5.1 連續性（Continuity）
- 14.5.2 靜態電流（IQ）
- 14.5.3 輸出高電平（VOH），輸出低電平（VOL）
- 14.5.4 輸入失調電壓（VOS）
- 14.5.5 輸入偏置電流（IB），輸入失調電流（IOS）
- 14.5.6 電源抑制比（PSRR）
- 14.5.7 共模抑制比（CMRR）
- 14.5.8 開環放大倍數（AVOL）
- 14.5.9 壓擺率（SR）
- 14.5.10 ATE的資源分配
- 14.6 測試函數的編寫
- 14.6.1 測試工程的新建
- 14.6.2 測試程序的PIN MAP設置
- 14.6.3 測試程序的Datasheet與Bin設置
- 14.6.4 測試函數的編寫
- 14.7 測試程序的調試
- 14.7.1 測試項目的啟動
- 14.7.2 測試項目的調試
- 14.7.3 測試結果
- 第15章 I2C接口的EEPROM存儲器測試
- 15.1 Datasheet與Testplan的分析
- 15.1.1 Datasheet里的總體性能描述
- 15.1.2 Datasheet里的存儲空間介紹
- 15.1.3 Datasheet里的物理連接介紹
- 15.1.4 Datasheet里的I2C總線介紹
- 15.1.5 Datasheet里的直流參數含義
- 15.1.6 Testplan的分析
- 15.2 測試方案的設計與調試
- 15.2.1 測試電路的設計
- 15.2.2 測試工程的新建
- 15.2.3 測試程序的PIN MAP設置
- 15.2.4 測試程序的Datasheet與Bin設置
- 15.2.5 連續性測試
- 15.2.6 IIL/IIH/ISB的測試
- 15.2.7 Func_AA的測試
- 附錄 采樣定理以及ADC的量化噪聲
- 參考文獻
- 封底 更新時間：2024-03-22 12:11:03
