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電子元器件檢驗技術(shù)（試驗部分）
最新章節(jié)：
第5章 DPA技術(shù)及結(jié)構(gòu)分析技術(shù)
本書在結(jié)合眾多工程師多年科研成果和工程實踐的基礎(chǔ)上，結(jié)合我國電子元器件產(chǎn)業(yè)現(xiàn)狀，從電子元器件檢驗和生產(chǎn)行業(yè)出發(fā)，圍繞電子元器件檢驗主題，詳細(xì)闡述了電子元器件測試的基本概念、標(biāo)準(zhǔn)體系，以及不同類別電子元器件的檢驗技術(shù)等。
最新章節(jié)
- 第5章 DPA技術(shù)及結(jié)構(gòu)分析技術(shù)
- 第4章 物理試驗技術(shù)
- 第3章 空間環(huán)境試驗技術(shù)
- 第2章 環(huán)境試驗技術(shù)
- 第1章 壽命試驗技術(shù)
- 前言
上架時間：2019-07-09 11:37:21
出版社：電子工業(yè)出版社
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